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恩云飞
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恩云飞
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著者
恩云飞
(5)
何小琦
(2)
(美) allyson l. hartzell, mark g. da silva, (瑞士) herbert r. shea著
(1)
(美) h. 阿德比利, 迈克尔·派克著
(1)
haleh ardebili, michael g. pecht
(1)
何小琦, 恩云飞, 周斌编著
(1)
周斌
(1)
哈策尔
(1)
孔学东
(1)
孔学东, 恩云飞, 尧彬等翻译
(1)
宋芳芳
(1)
尧彬
(1)
席尔瓦
(1)
恩云飞, 贾玉斌, 黄钦文译
(1)
恩云飞,谢少锋,何小琦编著
(1)
派克
(1)
章晓文
(1)
章晓文,恩云飞编著
(1)
编写组成员宋芳芳, 罗宏伟, 黄云
(1)
罗宏伟
(1)
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出版日期
2022
(1)
2015
(2)
2012
(2)
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文献类型
图书
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语言种类
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1.
半导体集成电路的可靠性及评价方法
订购中
(含光盘)
著者:
章晓文
恩云飞
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2015.10
文献类型:
图书 , 索书号:
TN43/18
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著者简介
2.
可靠性物理
订购中
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著者:
恩云飞
谢少锋
何小琦
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2015.10
文献类型:
图书 , 索书号:
TB114.2/24
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内容简介
著者简介
3.
电子微组装可靠性设计.应用篇
已借1次.
订购中
(含光盘)
著者:
何小琦
恩云飞
周斌
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2022.03
文献类型:
图书 , 索书号:
TN605/17
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内容简介
著者简介
4.
MEMS可靠性
订购中
(含光盘)
著者:
席尔瓦
谢伊
哈策尔
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2012.11
文献类型:
图书 , 索书号:
TN4/37
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内容简介
著者简介
5.
电子封装技术与可靠性
订购中
(含光盘)
著者:
派克
阿德比利
出版社:
化学工业出版社
出版日期: 2012.07
文献类型:
图书 , 索书号:
TN05/40
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